高温老化试验
- 网络uni; MTBF; htol
高温老化试验高温老化试验
uni
...I 应商 之间的管理;能 C供 够进行封装级测试和高温老化试验 (uni) 有效进 b r- I n 行高成品率和低成品率器件 的组 合;有助于产...
MTBF
...………………………..6 页 4.2.1.1 长期高温老化试验（MTBF）…….*...........................6 页 4.2.1.2 高温老化试验„„„„„„„„„„„„„„„„„„...
htol
[转]高温老化试验(htol)的目标是为了加速芯片老化，在较短的时间里模拟出芯片在整个生命周期的可靠性。它是一种long term b…